販売企業: Jpiジャパン株式会社
X線管焦点の評価が必要とされるデジタルX線装置だけでなく、アナログX線装置でも使用できるように設計された測定ツールです。
この測定ツールは、照射野の中心に投影されたX線装置の実行焦点の幅と長さを、高精度に測定できるよう設計されています。
スリットカメラ法では2回の撮影が必要ですが、ピンホールカメラ法であれば1回の撮影で焦点寸法の評価が行え、焦点寸法評価の時間短縮が行えます。
●焦点の経年変化を分析可能
●投影された焦点内のホットスポットは、より弱い強度でエリアと同様に画像化されます。
●焦点密度分布の分析には直接、焦点画像を使用します。
●ピンホールの被覆材料は、理想的な対象度と鮮鋭度を提供します。
●AEC(自動露出制御器)との併用可能